Main navigation Chinese
Sciemetric EDGE 一个通用的工业分析平台，可以帮助您在极短的时间内完善您的流程。这一分布式的数据分析系统消除了收集和使用数据的障碍，从而提高了生产率并节省了成本。
Sciemetric EDGE 平台凝聚了我们在数字信号处理和签名分析方面数十年的经验和专业知识。在性能、可靠性和可重复性方面，Sciemetric EDGE 为各种应用提供了深入的见解，包括离散制造、过程制造、状态和机器监控以及数据采集和测量。
借助 Sciemetric EDGE，各种制造过程和工业运营都能从这一复杂而激动人心的新方法中受益，该方法可以监视过程、实时执行“通过/失败”控制，并获得优化和控制整个过程所需的可视性。
此类处理、分析和控制功能都可以远程配置，从而为分布式操作实现了集中式管理。
这种超紧凑的数据采集和控制设备提供了通用的输入和输出接口，几乎能与任何类型的传感器协同工作。先进的设计简化了多种应用所需的构件数量。
当需要高速数据采集以进行精确的时间关键型测量（例如点火测试、定时分析或常规示波器类型的测量）时，这是理想的选择。该多合一系统自身带有处理器，以及超紧凑型的模拟和数字功能。
431 型专为传感器、继电器和开关的采集和控制而设计，是单一紧凑型的一体式 TTL 模块。其电气隔离通道和传感器电源使 431 成为一款功能强大的数据采集和控制设备。
412 型是紧凑的双模块载体，可以在恶劣的工业环境中部署。它采用坚固的 IP65 密封包装，为两个 EDGE 模块提供电源、以太网通信和高速直接同步链路。通过单一以太网供电（PoE）连接为载体提供通信和电源，这大大简化了接线和安装操作。
可以在各种应用中部署 Sciemetric EDGE 来进行过程监视和控制，其中包括：
离散制造: 执行零件测试和过程监控，以实现高质量的零件交付；快速追根溯源；实时分析生产车间情况
流程制造: 在连续过程和批次处理过程中监视机器、系统和材料，以提高效率和过程质量
状态和机器监控: 测量、控制和监视机器、工作站和工具，对效率、正常运行时间和操作合规性进行跟踪
数据采集与测量: 强大的多功能性，满足各种分布式智能要求
Sciemetric EDGE 软件提供了全套功能，涵盖模块查找、应用程序创建、数据审查和优化的应用部署。
这些包括：
完美匹配的冲压操作
Sciemetric EDGE Press Fit 包含冲压应用和 400 系列硬件，可以生成单闸板冲压监控系统。与所有 Sciemetric EDGE 解决方案一样，它旨在实现快速配置和部署。
所有 Sciemetric EDGE 解决方案的关键特性是模块化的可扩展性和灵活性。Sciemetric EDGE Press Fit 可以扩展，以同时监视多个冲压机。使用数字信号处理和特性分析来收集和分析来自力和位移传感器的数据，以检测任何零件或组件缺陷。
Press Fit 可检测各种缺陷，包括：
The Model 412 is a compact dual module carrier ready to deploy in harsh industrial environments. It provides power, Ethernet communications and high-speed direct synchronization links for two EDGE modules in a rugged IP65 sealed package.
The Sciemetric EDGE 414 carrier supports up to four channels. A system can include up to 10 stacked carriers to provide 3 - 40 channels.
Sciemetric EDGE's unique, modular and scalable design allows for any combination of digital and analog I/O.
Close the continuous improvement loop with Sciemetric EDGE Studio software. Do everything from module discovery and setup to full data analysis and process optimization with a single solution.
Sciemetric Studio's organized, user-friendly interface allows you to visualize and trend your data to better identify faulty applications and/or parts.
Sciemetric Studio's organized, user-friendly interface allows you to edit parameters and features of the test to better identify faulty applications and/or parts.
Sciemetric Studio's organized, user-friendly interface allows you to edit parameters and features of the test to better identify faulty applications and/or parts.
Sciemetric Studio allows you to overlay multiple waveforms to dig deeper, analyzing part history, and specific points in the manufacturing process deemed critical to quality.
Sciemetric Studio allows you to overlay multiple waveforms and view a variety of data at once to dig deeper, analyzing part history, and specific points in the manufacturing process deemed critical to quality.
Sciemetric Studio's organized, user-friendly interface allows simple, remote access to your connected channels.
Sciemetric Studio screens displaying a waveform trend overlay to easily visualize and identify anomalies in the data to pinpoint faulty applications/processes. The anomalies (bad parts) are shown in red above, deviating from the standard, acceptable waveform. Having access to the full process waveform allows for more effective defect detection, as you catch anomalies that can occur throughout any stage of the process instead of simply at the start and finish, which can result in bad parts to go unnoticed.